Asenov, A., Roy, S., Brown, A. R., Roy, G., Alexander, C., Riddet, C., . . . Kováč, U. Advanced simulation of statistical variability and reliability in nano CMOS transistors.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Citácia podle Chicago (17th ed.)
Asenov, Asen, et al. Advanced Simulation of Statistical Variability and Reliability in Nano CMOS Transistors.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Citácia podľa MLA (8th ed.)
Asenov, Asen, et al. Advanced Simulation of Statistical Variability and Reliability in Nano CMOS Transistors.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Upozornenie: Tieto citáce sú generované automaticky. Nemusia byť úplne správne podľa citačných pravidiel..