APA-Zitierstil (7. Ausg.)
Wang, L., Wu, C., & Wen, X. (2006). VLSI Test Principles and Architectures. Elsevier Inc..
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)
Wang, Laung-Terng, Cheng-Wen Wu, und Xiaoqing Wen. VLSI Test Principles and Architectures. San Francisco: Elsevier Inc., 2006.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)
Wang, Laung-Terng, et al. VLSI Test Principles and Architectures. Elsevier Inc., 2006.
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