Goodhew, P. J., Humphreys, J., & Beanland, R. (2001). Electron microscopy and analysis (3rd ed.). Taylor and Francis.
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Cita Chicago Style (17a ed.)
Goodhew, Peter J., John Humphreys, y Richard Beanland. Electron Microscopy and Analysis. 3rd ed. London: Taylor and Francis, 2001.
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Cita MLA (9a ed.)
Goodhew, Peter J., et al. Electron Microscopy and Analysis. 3rd ed. Taylor and Francis, 2001.
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