Beyerer, J., Hagmanns, R., & Stadler, D. (2024). Pattern Recognition: Introduction, Features, Classifiers and Principles (2. vydanie.). Walter de Gruyter.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Citácia podle Chicago (17th ed.)
Beyerer, Jürgen, Raphael Hagmanns, a Daniel Stadler. Pattern Recognition: Introduction, Features, Classifiers and Principles. 2. vydanie. Berlin: Walter de Gruyter, 2024.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Citácia podľa MLA (8th ed.)
Beyerer, Jürgen, et al. Pattern Recognition: Introduction, Features, Classifiers and Principles. 2. vydanie. Walter de Gruyter, 2024.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Upozornenie: Tieto citáce sú generované automaticky. Nemusia byť úplne správne podľa citačných pravidiel..