Gusev, E. (2006). Defects in High-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices. Springer Verlag.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Citácia podle Chicago (17th ed.)
Gusev, Evgeni. Defects in High-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices. Dordrecht: Springer Verlag, 2006.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Citácia podľa MLA (8th ed.)
Gusev, Evgeni. Defects in High-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices. Springer Verlag, 2006.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Upozornenie: Tieto citáce sú generované automaticky. Nemusia byť úplne správne podľa citačných pravidiel..