Ma, T. (1989). Ionizing radiation effects in MOS devices and circuits. John Wiley & Sons.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Citácia podle Chicago (17th ed.)
Ma, T.P. Ionizing Radiation Effects in MOS Devices and Circuits. New York: John Wiley & Sons, 1989.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Citácia podľa MLA (8th ed.)
Ma, T.P. Ionizing Radiation Effects in MOS Devices and Circuits. John Wiley & Sons, 1989.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Upozornenie: Tieto citáce sú generované automaticky. Nemusia byť úplne správne podľa citačných pravidiel..