Style de citation APA (7e éd.)
Kuruc, M., Hulényi, L., & Kinder, R. (2009). Application of spreading resistence profiling for monitoring of semiconductor technological processes = Využitie metódy rozptylového odporu na monitorovanie technologických procesov polovodičovej výroby: Dát. obhaj. 25.02.2010, č. ved. odb. 26-13-9. STU v Bratislave FEI.
Style de citation Chicago (17e éd.)
Kuruc, Marián, Ladislav Hulényi, et Rudolf Kinder. Application of Spreading Resistence Profiling for Monitoring of Semiconductor Technological Processes = Využitie Metódy Rozptylového Odporu Na Monitorovanie Technologických Procesov Polovodičovej Výroby: Dát. Obhaj. 25.02.2010, č. Ved. Odb. 26-13-9. Bratislava: STU v Bratislave FEI, 2009.
Style de citation MLA (9e éd.)
Kuruc, Marián, et al. Application of Spreading Resistence Profiling for Monitoring of Semiconductor Technological Processes = Využitie Metódy Rozptylového Odporu Na Monitorovanie Technologických Procesov Polovodičovej Výroby: Dát. Obhaj. 25.02.2010, č. Ved. Odb. 26-13-9. STU v Bratislave FEI, 2009.
Attention : ces citations peuvent ne pas être correctes à 100%.