Citazione Stile APA (7a Edizione)
Kuruc, M., Hulényi, L., & Kinder, R. (2009). Application of spreading resistence profiling for monitoring of semiconductor technological processes = Využitie metódy rozptylového odporu na monitorovanie technologických procesov polovodičovej výroby: Dát. obhaj. 25.02.2010, č. ved. odb. 26-13-9. STU v Bratislave FEI.
Citazione stile Chigago Style (17a edizione)
Kuruc, Marián, Ladislav Hulényi, e Rudolf Kinder. Application of Spreading Resistence Profiling for Monitoring of Semiconductor Technological Processes = Využitie Metódy Rozptylového Odporu Na Monitorovanie Technologických Procesov Polovodičovej Výroby: Dát. Obhaj. 25.02.2010, č. Ved. Odb. 26-13-9. Bratislava: STU v Bratislave FEI, 2009.
Citatione MLA (9a ed.)
Kuruc, Marián, et al. Application of Spreading Resistence Profiling for Monitoring of Semiconductor Technological Processes = Využitie Metódy Rozptylového Odporu Na Monitorovanie Technologických Procesov Polovodičovej Výroby: Dát. Obhaj. 25.02.2010, č. Ved. Odb. 26-13-9. STU v Bratislave FEI, 2009.
Attenzione: Queste citazioni potrebbero non essere precise al 100%.