Cita APA (7a ed.)
Sumega, M., & Áč, V. (2010). Study of Interconnect Layers Oriented to Ohmic and Barrier Effects: Dát. obhaj. 16.12.2010, čís. ved. odb. 5.2.13. STU v Bratislave FEI.
Cita Chicago Style (17a ed.)
Sumega, Miroslav, y Vladimír Áč. Study of Interconnect Layers Oriented to Ohmic and Barrier Effects: Dát. Obhaj. 16.12.2010, čís. Ved. Odb. 5.2.13. Bratislava: STU v Bratislave FEI, 2010.
Cita MLA (9a ed.)
Sumega, Miroslav, y Vladimír Áč. Study of Interconnect Layers Oriented to Ohmic and Barrier Effects: Dát. Obhaj. 16.12.2010, čís. Ved. Odb. 5.2.13. STU v Bratislave FEI, 2010.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.