Sumega, M., & Áč, V. (2010). Study of Interconnect Layers Oriented to Ohmic and Barrier Effects: Dát. obhaj. 16.12.2010, čís. ved. odb. 5.2.13. STU v Bratislave FEI.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Citácia podle Chicago (17th ed.)
Sumega, Miroslav, a Vladimír Áč. Study of Interconnect Layers Oriented to Ohmic and Barrier Effects: Dát. Obhaj. 16.12.2010, čís. Ved. Odb. 5.2.13. Bratislava: STU v Bratislave FEI, 2010.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Citácia podľa MLA (8th ed.)
Sumega, Miroslav, a Vladimír Áč. Study of Interconnect Layers Oriented to Ohmic and Barrier Effects: Dát. Obhaj. 16.12.2010, čís. Ved. Odb. 5.2.13. STU v Bratislave FEI, 2010.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Upozornenie: Tieto citáce sú generované automaticky. Nemusia byť úplne správne podľa citačných pravidiel..