Style de citation APA (7e éd.)
Leach, R. K. (2010). Fundamental principles of engineering nanometrology. Elsevier.
Style de citation Chicago (17e éd.)
Leach, Richard K. Fundamental Principles of Engineering Nanometrology. Amsterdam: Elsevier, 2010.
Style de citation MLA (9e éd.)
Leach, Richard K. Fundamental Principles of Engineering Nanometrology. Elsevier, 2010.
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