Gábor, Z., & Fesič, V. (1999). Meranie multivrstvových štruktúr pre mikroelektroniku metódou hmotnostnej spektrometrie sekundárnych iónov: Dipl.práca. STU v Bratislave FEI.
Copiado correctamente al portapapeles
Error al copiar al portapapeles
Cita Chicago Style (17a ed.)
Gábor, Zoltán, y Vladimír Fesič. Meranie Multivrstvových štruktúr Pre Mikroelektroniku Metódou Hmotnostnej Spektrometrie Sekundárnych Iónov: Dipl.práca. Bratislava: STU v Bratislave FEI, 1999.
Copiado correctamente al portapapeles
Error al copiar al portapapeles
Cita MLA (9a ed.)
Gábor, Zoltán, y Vladimír Fesič. Meranie Multivrstvových štruktúr Pre Mikroelektroniku Metódou Hmotnostnej Spektrometrie Sekundárnych Iónov: Dipl.práca. STU v Bratislave FEI, 1999.
Copiado correctamente al portapapeles
Error al copiar al portapapeles
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.