Runyan, W., & Shaffner, T. (1997). Semiconductor Measurements and Instrumentation. McGraw-Hill.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Citácia podle Chicago (17th ed.)
Runyan, W.R, a T.J Shaffner. Semiconductor Measurements and Instrumentation. New York: McGraw-Hill, 1997.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Citácia podľa MLA (8th ed.)
Runyan, W.R, a T.J Shaffner. Semiconductor Measurements and Instrumentation. McGraw-Hill, 1997.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Upozornenie: Tieto citáce sú generované automaticky. Nemusia byť úplne správne podľa citačných pravidiel..