Cita APA (7a ed.)
Gašparovič, M., Kováč, J., McPhail, D. S., & Chater, R. (2003). Semiconductor materials and structures characterization by methods of SIMS and optical analysis = Využitie metód optickej a materiálovej analýzy pre charakterizáciu polovovičov a polovodičových štruktúr: Diplomová práca. STU v Bratislave FEI.
Cita Chicago Style (17a ed.)
Gašparovič, Marek, Jaroslav Kováč, David S. McPhail, y Richard Chater. Semiconductor Materials and Structures Characterization by Methods of SIMS and Optical Analysis = Využitie Metód Optickej a Materiálovej Analýzy Pre Charakterizáciu Polovovičov a Polovodičových štruktúr: Diplomová Práca. Bratislava: STU v Bratislave FEI, 2003.
Cita MLA (9a ed.)
Gašparovič, Marek, et al. Semiconductor Materials and Structures Characterization by Methods of SIMS and Optical Analysis = Využitie Metód Optickej a Materiálovej Analýzy Pre Charakterizáciu Polovovičov a Polovodičových štruktúr: Diplomová Práca. STU v Bratislave FEI, 2003.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.