Williams, T. (1986). VLSI testing. Advances in CAD for VLSI. Vol. 5. Elsevier.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Citácia podle Chicago (17th ed.)
Williams, T.W. VLSI Testing. Advances in CAD for VLSI. Vol. 5. Amsterdam: Elsevier, 1986.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Citácia podľa MLA (8th ed.)
Williams, T.W. VLSI Testing. Advances in CAD for VLSI. Vol. 5. Elsevier, 1986.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Upozornenie: Tieto citáce sú generované automaticky. Nemusia byť úplne správne podľa citačných pravidiel..