Style de citation APA (7e éd.)
Williams, T. (1986). VLSI testing. Advances in CAD for VLSI. Vol. 5. Elsevier.
Style de citation Chicago (17e éd.)
Williams, T.W. VLSI Testing. Advances in CAD for VLSI. Vol. 5. Amsterdam: Elsevier, 1986.
Style de citation MLA (9e éd.)
Williams, T.W. VLSI Testing. Advances in CAD for VLSI. Vol. 5. Elsevier, 1986.
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