APA-Zitierstil (7. Ausg.)
Williams, T. (1986). VLSI testing. Advances in CAD for VLSI. Vol. 5. Elsevier.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)
Williams, T.W. VLSI Testing. Advances in CAD for VLSI. Vol. 5. Amsterdam: Elsevier, 1986.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)
Williams, T.W. VLSI Testing. Advances in CAD for VLSI. Vol. 5. Elsevier, 1986.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.