Cita APA (7a ed.)
Williams, T. (1986). VLSI testing. Advances in CAD for VLSI. Vol. 5. Elsevier.
Cita Chicago Style (17a ed.)
Williams, T.W. VLSI Testing. Advances in CAD for VLSI. Vol. 5. Amsterdam: Elsevier, 1986.
Cita MLA (9a ed.)
Williams, T.W. VLSI Testing. Advances in CAD for VLSI. Vol. 5. Elsevier, 1986.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.