(1984). Secondary Ion Mass Spectometry: SIMS 4. Proceedings of the 4th international conference. Osaka, 13.- 19. Nov. 1983. Springer Verlag.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Citácia podle Chicago (17th ed.)
Secondary Ion Mass Spectometry: SIMS 4. Proceedings of the 4th International Conference. Osaka, 13.- 19. Nov. 1983. Berlin: Springer Verlag, 1984.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Citácia podľa MLA (8th ed.)
Secondary Ion Mass Spectometry: SIMS 4. Proceedings of the 4th International Conference. Osaka, 13.- 19. Nov. 1983. Springer Verlag, 1984.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Upozornenie: Tieto citáce sú generované automaticky. Nemusia byť úplne správne podľa citačných pravidiel..