Špánik, P. J., & Marek, J. (2023). Skúmanie odolnosti výkonových tranzistorov v podmienkach SC a UIS testu. STU v Bratislave FEI.
Copiado correctamente al portapapeles
Error al copiar al portapapeles
Cita Chicago Style (17a ed.)
Špánik, Patrik Ján, y Juraj Marek. Skúmanie Odolnosti Výkonových Tranzistorov V podmienkach SC A UIS Testu. Bratislava: STU v Bratislave FEI, 2023.
Copiado correctamente al portapapeles
Error al copiar al portapapeles
Cita MLA (9a ed.)
Špánik, Patrik Ján, y Juraj Marek. Skúmanie Odolnosti Výkonových Tranzistorov V podmienkach SC A UIS Testu. STU v Bratislave FEI, 2023.
Copiado correctamente al portapapeles
Error al copiar al portapapeles
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.