Résultats de la recherche - Sachdev, Manoj

  • Résultat(s) 1 - 2 résultats de 2
Affiner les résultats

  1. Defect Oriented testing for CMOS Analog and Digital Circuits par Sachdev, Manoj

    Publié 1998
    Livre
    Ajouter aux favoris
    Enregistré dans:

  2. Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits par Sachdev, Manoj, Gyvez, José Pineda

    Publié 2007
    Livre
    Ajouter aux favoris
    Enregistré dans:

Outils de recherche: