Defect Oriented testing for CMOS Analog and Digital Circuits

Podobné jednotky

• Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
  Autor: Sachdev, Manoj, a ďalší
  Vydavateľské údaje: (2007)
• Design of Analog CMOS Integrated Circuit
  Autor: Razavi, Behzad
  Vydavateľské údaje: (2001)
• CMOS Circuit Design, Layout, and Simulation
  Autor: Baker, Jacob, a ďalší
  Vydavateľské údaje: (1997)
• Electronic Device Architectures Nano-CMOS Era : From Ultimate CMOS Scaling to Beyond CMOS Devices
  Autor: Deleonibus, Simon
  Vydavateľské údaje: (2009)
• CMOS Active Inductors and Transformers : Principle, Implementation, and Applications
  Autor: Yuan, Fei
  Vydavateľské údaje: (2008)