Modeling and simulation of transistor and circuit variability and reliability

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Asenov, Asen
Otros Autores: Cheng, Binjie, Dideban, D., Kováč, Urban, Moezi, N., Millar, Campbell, Roy, Gareth, Brown, Adrew R., Roy, Scott
Formato: Capítulo de libro
Lenguaje:inglés
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