Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Goldstein, Joseph, 1939- (Verfasst von), Newbury, Dale E. (Verfasst von), Michael, Joseph R. (Verfasst von), Ritchie, Nicholas W. M. (Verfasst von), Scott, John Henry J. (Verfasst von), Joy, David C. (Verfasst von)
Format: Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: New York : Springer, 2018.
Ausgabe:Fourth edition.
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