Industrial Tomography : Systems and Applications /
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| Auteur principal: | |
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| Format: | Livre |
| Langue: | anglais |
| Publié: |
Amsterdam
Elsevier
2015
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| Collection: | Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials
71 |
| Sujets: | |
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| Description matérielle: | 744 s. |
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| ISBN: | 978-1-78242-118-4 |