Štruktúrna charakterizácia nanokompozitných tenkých vrstiev : Č. ved. odb. Dát. obhaj.
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak |
| Vydavateľské údaje: |
Bratislava :
Elektrotechnický ústav SAV,
2005
|
| Predmet: | |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: Štruktúrna charakterizácia nanokompozitných tenkých vrstiev :
- Tenkovrstvové mikroelektródy pre elektrochemické impedančné biosenzory : Č. ved. odb. 26-13-9. Dát. obhaj. 23.4.2008
- Tenkovrstvové mikroštruktúry pre aplikácie v elektrotechnických senzoroch : Č. ved. odb. 26-13-9. Dát. obhaj. 19.07.2005
- Tenkovrstvové mikroelektródy pre elektrochemické vodivostné senzory aplikované v biomedicínskom monitorovaní stresu : Č. ved. odb. 26-13-9. Dát. obhaj. 19.07.2005
- Optimalizácia senzorických vlastností naprašovaných tenkých vrstiev : Obhaj. 7.4.2005, čís.ved.odb. 26-13-9
- Characterization of rubrene thin films by optical techniques = Charakterizácia tenkých vrstiev optickými metódami : Čís.ved.odb. 26-13-9, Dát. obhaj. 09-07-2009
- Optimalizácia dávkovania kvapalného prekurzora pre prípravu tenkých vrstiev metódou MOCVD