Hĺbkové profilovanie tenkých SiC vrstiev pomocou AES : Dipl.práca /
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Weitere Verfasser: | |
| Format: | Manuskript Buch |
| Veröffentlicht: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
1997
|
| Tags: |
Keine Tags, Fügen Sie das erste Tag hinzu!
|
Ähnliche Einträge: Hĺbkové profilovanie tenkých SiC vrstiev pomocou AES :
- Hĺbkové profilovanie pomocou AES - interpretácia hĺbkových profilov s využitím simulácií pomocou programu T-dyn
- Charekterictika tenkých AIN a Sic vrstiev : Dipl.práca /
- Vlastnosti amorfných tenkých vrstiev SiC a ich využitie vo fotovoltike : dát. obhaj. 25.4.2013, č. ved. odb. 5-2-12
- Detekcia a spracovanie signálu z SiC fotodetektorov : Dipl.práca /
- Charakterizácia GaN bufferových vrstiev rastených na SiC pomocou MOCVD pri rôznych tlakoch
- Registrácia ionizujúceho žiarenia SiC detektorom