Príprava a diagnostika štruktúr MIS pre novú generáciu unipolárnych prvkov : Ved.odb. 26-13-9. Obh. 10.3.2006
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak |
| Vydavateľské údaje: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2005
|
| Predmet: | |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: Príprava a diagnostika štruktúr MIS pre novú generáciu unipolárnych prvkov :
- Diagnostika kvality polovodičových štruktúr nerovnovážnymi kapacitnými metódami : Habil.práca : Obh. 03.09.1996 /
- Nové dielektrické materiály pre perspektívne unipolárne technológie
- Defects in High-k Gate Dielectric Stacks : Nano-Electronic Semiconductor Devices
- Polovodičové součástky typu MIS /
- Simulácia, meranie a vyhodnocovanie koncentračných profilov prímesí v polovodičových štruktúrach : Habil.práca : Obh. 03.09.1996 /
- Analýza kinetiky procesov v polovodičových štruktúrach spektroskopiou hlbokých hladín : Kand.diz.práca : Obh. 24.09.1996 /