Elektrická charakterizácia vlastností štruktur MOS s veľmi tenkým oxidom
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Manuscript Book |
| Language: | Slovak |
| Published: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2004
|
| Subjects: | |
| Tags: |
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Similar Items: Elektrická charakterizácia vlastností štruktur MOS s veľmi tenkým oxidom
- Charakterizácia štruktúr MIS s oxidom ytria
- Charakterizácia štruktúr MIS s veľmi tenkými izolačnými vrstvami
- Elektrická charakterizácia polovodičových štruktúr a prvkov
- Charakterizácia elektrických vlastností štruktúr MOS s tenkými dielektrickými vrstvami s vysokou dielektrickou konštantou
- Charakterizácia štruktúr MOS pre pokročilú CMOS technológiu
- Štúdium vlastností rozhrania izolant-polovodič štruktúr MOS