Elektrická charakterizácia vlastností štruktur MOS s veľmi tenkým oxidom
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak |
| Vydavateľské údaje: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2004
|
| Predmet: | |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: Elektrická charakterizácia vlastností štruktur MOS s veľmi tenkým oxidom
- Charakterizácia štruktúr MIS s oxidom ytria
- Charakterizácia štruktúr MIS s veľmi tenkými izolačnými vrstvami
- Elektrická charakterizácia polovodičových štruktúr a prvkov
- Charakterizácia elektrických vlastností štruktúr MOS s tenkými dielektrickými vrstvami s vysokou dielektrickou konštantou
- Charakterizácia štruktúr MOS pre pokročilú CMOS technológiu
- Štúdium vlastností rozhrania izolant-polovodič štruktúr MOS