Elektrická charakterizácia vlastností štruktur MOS s veľmi tenkým oxidom
Enregistré dans:
| Auteur principal: | |
|---|---|
| Autres auteurs: | |
| Format: | Manuscrit Livre |
| Langue: | slovaque |
| Publié: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2004
|
| Sujets: | |
| Tags: |
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|
Documents similaires: Elektrická charakterizácia vlastností štruktur MOS s veľmi tenkým oxidom
- Charakterizácia štruktúr MIS s oxidom ytria
- Charakterizácia štruktúr MIS s veľmi tenkými izolačnými vrstvami
- Elektrická charakterizácia polovodičových štruktúr a prvkov
- Charakterizácia elektrických vlastností štruktúr MOS s tenkými dielektrickými vrstvami s vysokou dielektrickou konštantou
- Charakterizácia štruktúr MOS pre pokročilú CMOS technológiu
- Štúdium vlastností rozhrania izolant-polovodič štruktúr MOS