Meranie a vyhodnotenie elektrických vlastností výkonových tranzistorov
Enregistré dans:
| Auteur principal: | |
|---|---|
| Autres auteurs: | , |
| Format: | Manuscrit Livre |
| Langue: | slovaque |
| Publié: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2005
|
| Sujets: | |
| Tags: |
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|
Documents similaires: Meranie a vyhodnotenie elektrických vlastností výkonových tranzistorov
- Meranie a vyhodnocovanie vybraných elektrofyzikálných vlastností výkonových trench MOS tranzistorov
- Vyhodnotenie elektrických vlastností a energetickej odolnosti vybraných DMOS tranzistorov podporené modelovaním a simuláciou
- Meranie a vyhodnotenie elektrických vlastností Schottkyho štruktúr GaN
- Meranie a vyhodnotenie elektrických vlastností Schottkyho štruktúr PtSi-Si
- Analýza elektrofyzikálných vlastností a energetickej odolnosti moderných výkonových tranzistorov : Dát. obhaj. 17.2.2011, č. ved. odb. 5-2-13
- Meranie 1/f šumu tranzistorov : Dipl.práca