Štúdium vlastností dusíkom dotovaného Si substrátu kapacitnými meracími metódami
Salvato in:
| Autore principale: | |
|---|---|
| Altri autori: | , |
| Natura: | Manoscritto Libro |
| Lingua: | slovacco |
| Pubblicazione: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2005
|
| Soggetti: | |
| Tags: |
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!
|
Documenti analoghi: Štúdium vlastností dusíkom dotovaného Si substrátu kapacitnými meracími metódami
- Analýza vlastností polovodičových štruktúr kapacitnými metódami : Dipl.práca /
- Určovanie generačnej doby života v štruktúrach MOS s dusíkom dotovaným Si substrátom
- Charakterizácia štruktúr MOS s dusíkom dotovaným Si substrátom pre unipolárnu vykonovú elektroniku
- Vplyv ťažkých iónov Kr na vlastnosti štruktúry MOS so substrátom dotovaným dusíkom
- Sledovanie vplyvu teploty substrátu na vlastnosti kovových vrstiev pripravených pilznou laserovou depozíciou
- Diagnostika kvality polovodičových štruktúr nerovnovážnymi kapacitnými metódami : Habil.práca : Obh. 03.09.1996 /