Defect and Microstructure Analysis by Diffraction

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Hlavní autori: Snyder, Robert L. (Autor), Fiala, Jaroslav (Autor), Bunge, Hans Joachim (Autor)
Médium: Kniha
Jazyk:English
Vydavateľské údaje: Oxford : Oxford University Press, 1999
Edícia:IUCr Monographs on Crystallography 10
Predmet:
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!

Podobné jednotky: Defect and Microstructure Analysis by Diffraction