Elektrická charakterizácia Schottkyho štruktur na báze 4H-SiC
Na minha lista:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Outros Autores: | |
| Formato: | Manuscrito Livro |
| Idioma: | eslovaco |
| Publicado em: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2007
|
| Assuntos: | |
| Tags: |
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!
|
Registos relacionados: Elektrická charakterizácia Schottkyho štruktur na báze 4H-SiC
- Elektrická charakterizácia kvality Schottkyho diód
- Elektrická charakterizácia polovodičových štruktúr a prvkov
- Elektrická charakterizácia polovodičových štruktúr a prvkov metódou DLTS
- Identifikácia porúch v Schottkyho štruktúrach na báze SiC spektroskopiou hlbokých hladín
- Charakterizácia štruktúr MOS s dusíkom dotovaným Si substrátom pre unipolárnu vykonovú elektroniku
- Charakterizácia a vlastnosti štruktúr typu MIS-HFET na báze GaN : č. ved. odb. 26-13-9, obhaj. 11.6.2008