Characterization of rubrene thin films by optical techniques = Charakterizácia tenkých vrstiev optickými metódami : Čís.ved.odb. 26-13-9, Dát. obhaj. 09-07-2009
Enregistré dans:
| Auteur principal: | |
|---|---|
| Autres auteurs: | , |
| Format: | Manuscrit Livre |
| Langue: | anglais |
| Publié: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2009
|
| Sujets: | |
| Tags: |
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|
Documents similaires: Characterization of rubrene thin films by optical techniques = Charakterizácia tenkých vrstiev optickými metódami :
- The Materials Science of Thin Films /
- Metódy vytvárania tenkých vrstiev
- Thin Film Materials : Stress, Defect Formation and Surface Evolution
- Optimalizácia senzorických vlastností naprašovaných tenkých vrstiev : Obhaj. 7.4.2005, čís.ved.odb. 26-13-9
- Proceedings of the 7th Czecho-Slovak conference on thin films : Konf. Liptovský Mikuláš, 14.- 18. June 1993 : Obs. Zv.1:, s.1-178. Zv.2:, s.179-368 /
- Thin Film Analysis by X-Ray Scattering /