Elektrická charakterizácia polovodičových štruktúr a prvkov metódou DLTS
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak |
| Vydavateľské údaje: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2009
|
| Predmet: | |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: Elektrická charakterizácia polovodičových štruktúr a prvkov metódou DLTS
- Elektrická charakterizácia polovodičových štruktúr a prvkov
- Diagnostika kvality polovodičových štruktúr a prvkov
- Charakterizácia polovodičových štruktúr : Ved.odb. 26-13-9. Obh. 03.09.2003
- Diagnostika kvality polovodičových štruktúr nerovnovážnymi kapacitnými metódami : Habil.práca : Obh. 03.09.1996 /
- Elektrická charakterizácia kvality Schottkyho diód
- Teplotná charakterizácia a modelovanie polovodičových prvkov