Tvorba robustných testovacích hraníc pri meraní záverného prúdu polovodičových diód.
Na minha lista:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Outros Autores: | |
| Formato: | Manuscrito Livro |
| Idioma: | eslovaco |
| Publicado em: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2011
|
| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | VAIS |
| Tags: |
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!
|
Registos relacionados: Tvorba robustných testovacích hraníc pri meraní záverného prúdu polovodičových diód.
- Pasivácia organických elektroluminiscenčných diód
- Vlastnosti elektroluminiscenčných diód pre spintronické aplikácie : dát. obhaj. 7.11.2013, č. ved. odb. 5-2-13
- Skúmanie kvality polovodičových materiálov a štruktúr metódou DLTS : dát. obahj. 27.11.2013, č. ved. odb. 5-2-13
- Meranie a analýza elektrických vlastností tranzistorov typu HEMT
- Meranie a spracovanie biosignálov
- Meranie optických vlastností biologických tkanív