Skúmanie vlastností polovodičových štruktúr metódou DLTS
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak |
| Vydavateľské údaje: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2011
|
| Predmet: | |
| On-line prístup: | VAIS |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: Skúmanie vlastností polovodičových štruktúr metódou DLTS
- Skúmanie vlastností polovodičových štruktúr na báze GaN metódou DLTS
- Skúmanie kvality polovodičových štruktúr
- Elektrická charakterizácia polovodičových štruktúr a prvkov metódou DLTS
- Parametre porúch v polovodičových štruktúrach
- Vlastnosti polovodičových štruktúr ožiarených ťažkými iónmi merané pomocou nábojovej DLTS metódy : Dipl.práca
- Skúmanie kvality polovodičových materiálov a štruktúr metódou DLTS : dát. obahj. 27.11.2013, č. ved. odb. 5-2-13