Meranie a analýza vlastností organických poľom riadených tranzistorov
Guardado en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Otros Autores: | |
| Formato: | Manuscrito Libro |
| Lenguaje: | eslovaco |
| Publicado: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2012
|
| Materias: | |
| Acceso en línea: | VAIS |
| Etiquetas: |
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|
Ejemplares similares: Meranie a analýza vlastností organických poľom riadených tranzistorov
- Príprava a vlastnosti tenkovrstvových submikrometrových heteroštruktúr supravodič-feromagnet
- Analýza porúch v organických polovodičových štruktúrach spektroskopiou hlbokých hladín
- Nanokompozitné tvrdé vrstvy s odolnosťou proti oxidácii pri vysokých teplotách
- FIB a jeho využitie pre tvarovanie tenkých vrstiev
- Príprava, charakterizácia a tvarovanie ultratenkých vrstiev PtSe2
- Príprava a charakterizácia elektrických vlastností organických poľom riadených tranzistorov na báze pentacénu