Vplyv mikroštruktúry kapacitora na báze TiO2 dielektrika s vysokou dielektrickou konštantou na jeho elektrické vlastnosti
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Weitere Verfasser: | |
| Format: | Manuskript Buch |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2012
|
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | VAIS |
| Tags: |
Keine Tags, Fügen Sie das erste Tag hinzu!
|
Ähnliche Einträge: Vplyv mikroštruktúry kapacitora na báze TiO2 dielektrika s vysokou dielektrickou konštantou na jeho elektrické vlastnosti
- Charakterizácia elektrických vlastností štruktúr MOS s tenkými dielektrickými vrstvami s vysokou dielektrickou konštantou
- Optimalizácia hradlového dielektrika organických poľom riadených tranzistorov (OFET)
- Príprava podvojných oxidov na báze TiO2 : Obh. 3.6.1991 /
- TiO2 fotokatalýza základy a aplikace /
- Vplyv koncentrácie TiO2 na vlastnosti keramického systému B4C + TiO2
- Formovanie mikroštruktúry v peritektickej zliatine na báze TiAl