Vlastnosti amorfných tenkých vrstiev SiC a ich využitie vo fotovoltike : dát. obhaj. 25.4.2013, č. ved. odb. 5-2-12
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak |
| Vydavateľské údaje: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2013
|
| Predmet: | |
| On-line prístup: | VAIS |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: Vlastnosti amorfných tenkých vrstiev SiC a ich využitie vo fotovoltike :
- Degradačné procesy vo fotovoltických systémoch na báze SiC
- Hĺbkové profilovanie tenkých SiC vrstiev pomocou AES : Dipl.práca /
- Výskum a charakterizácia MQW heteroštrultúr pre QWIP detektory pripravené na tvarovaných substrátoch GaAs : Obh. 15.06.2006
- Úvod do strukturní rentgenografie /
- Simulácia vybraných elektrických vlastností HEMT na báze heteroštruktúr GaN/AlxGa1-xN.
- Chemická analýza heteroštruktúr InGaN/GaN a AlGaN/GaN