Sequential logic testing and verification /

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Autores principales: Ghosh, Abhijit (Autor), Devadas, Srinivas (Autor), Newton, A.Richard (Autor)
Formato: Libro
Lenguaje:inglés
Publicado: Boston : Kluwer Academic Publishers, 1992
Materias:
logické obvody
sekvenčné obvody
testovanie
CAD
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