Metódy zvyšovania kvality parametrických testov pre analógové integrované obvody : dát. obhaj. 27.8.2013, č. ved. odb. 5-2-13
Enregistré dans:
| Auteur principal: | |
|---|---|
| Autres auteurs: | |
| Format: | Manuscrit Livre |
| Langue: | slovaque |
| Publié: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2013
|
| Sujets: | |
| Accès en ligne: | VAIS |
| Tags: |
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|
MARC
| LEADER | 00000ntm a22000003a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | stu274096 | ||
| 005 | 20150617230238.3 | ||
| 008 | 130910s2013----xo------------------slo-d | ||
| 040 | |a STU |b slo | ||
| 041 | 0 | |a slo | |
| 044 | |a xo | ||
| 100 | 1 | |a Brenkuš, Juraj, |d 1982- |4 aut |u E030 |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky |X 19530 |U E030 |Y 549 |7 A000019530 | |
| 242 | 0 | 0 | |a Methods of parametric test quality enhancement for analog integrated circuits |y eng |
| 245 | 1 | |a Metódy zvyšovania kvality parametrických testov pre analógové integrované obvody : |b dát. obhaj. 27.8.2013, č. ved. odb. 5-2-13 | |
| 260 | |a Bratislava : |b STU v Bratislave FEI, |c 2013 | ||
| 300 | |a 115 s | ||
| 650 | 7 | |a Mikroelektronika |2 stusub | |
| 650 | 7 | |a Microelectronics |2 estusub | |
| 650 | 7 | |a analógové integrované obvody |2 stusub | |
| 700 | 1 | |a Stopjaková, Viera, |d 1968- |4 ths |u E030 |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky |X 1939 |U E030 |Y 549 |7 A000001939 | |
| 856 | 4 | |a info a plný text |u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=55961 |3 VAIS | |
| 996 | |b 284ED01421 |c E*ZP-285 |l EE01 |s A |a 24 |w stu274096_0001 | ||