Skúmanie kvality polovodičových materiálov a štruktúr metódou DLTS : dát. obahj. 27.11.2013, č. ved. odb. 5-2-13
Enregistré dans:
| Auteur principal: | |
|---|---|
| Autres auteurs: | |
| Format: | Manuscrit Livre |
| Langue: | slovaque |
| Publié: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2013
|
| Sujets: | |
| Accès en ligne: | VAIS |
| Tags: |
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|
Documents similaires: Skúmanie kvality polovodičových materiálov a štruktúr metódou DLTS :
- Elektrická charakterizácia polovodičových štruktúr a prvkov metódou DLTS
- Návrh a verifikácia metódy prúdového testu IO pomocou štruktúr MAGFET : dát. obhaj. 1.7.2011, č. ved. odb. 5-2-13
- Vlastnosti elektroluminiscenčných diód pre spintronické aplikácie : dát. obhaj. 7.11.2013, č. ved. odb. 5-2-13
- Skúmanie vlastností polovodičových štruktúr metódou DLTS
- Diagnostika šumových vlastností tranzistorov GaN HEMT : dát. obhaj. 27.8.2014, č. ved. odb. 5-2-13
- Emitory elektrónov na báze materiálov s obsahom uhlíka a iných materiálov : dát. obhaj.12.10.2011, č. ved. odb. 5-2-13