Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Guardado en:
| Formato: | Libro |
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| Lenguaje: | inglés |
| Publicado: |
New York :
Springer Science-Business Media,
2003
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| Edición: | 3rd Ed. |
| Materias: | |
| Etiquetas: |
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| Descripción Física: | 690 s |
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| ISBN: | 978-0-306-47292-3 |