Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
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| Formato: | Livro |
|---|---|
| Idioma: | inglês |
| Publicado em: |
New York :
Springer Science-Business Media,
2003
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| Edição: | 3rd Ed. |
| Assuntos: | |
| Tags: |
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| Descrição Física: | 690 s |
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| ISBN: | 978-0-306-47292-3 |