Príspevok k analýze povrchových vrstiev tuhých látok metódou PIXE : Kand.diz.práca : Obh. 02.07.1990 /
Enregistré dans:
| Auteur principal: | |
|---|---|
| Autres auteurs: | |
| Format: | Manuscrit Livre |
| Publié: |
Bratislava :
SVŠT v Bratislave EF,
1990
|
| Tags: |
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|
Documents similaires: Príspevok k analýze povrchových vrstiev tuhých látok metódou PIXE :
- Príspevok k včleneniu 85Kr do tuhých nosičových látok metódou iónového ostrelovania : Kand.diz.práca : V.odb. 11-20-9 : Obh. 07.02.1973 /
- Spevňovanie povrchových vrstiev
- Tribológia povrchových vrstiev
- Príspevok k metódam kvantitatívnej elektrónovej spektroskopie tuhých látok : Kand.diz.práca : V.odb. 26-10-9 : Obh. 07.01.1982 : Projekt III-4-3/4III-6-1/08 /
- Príspevok k hodnoteniu vlasností povrchových vrstiev betónových prvkov : Dizertačná práca
- Využitie metódy PIXE v biomedicínskom výskume