Technologické aspekty spolehlivosti integrovaných obvodů : Kand.diz.práca : V.odb. 26-01-9 : Obh. 26.11.1987 /
Na minha lista:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Outros Autores: | |
| Formato: | Manuscrito Livro |
| Publicado em: |
Bratislava :
SVŠT v Bratislave EF,
1986
|
| Assuntos: | |
| Tags: |
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!
|
Registos relacionados: Technologické aspekty spolehlivosti integrovaných obvodů :
- Spolehlivost svarů AU-AL a difuze v systému AU-AL při zvýšených teplotách ve strukturách tenkovrstvých hybridních integrovaných obvodů : Kand.diz.práca : V.odb. 26-10-9 : Obh. 21.01.1991 /
- Využitie analógových integrovaných obvodov /
- Porovnávacie tabuľky číslicových integrovaných obvodov /
- Elektrická vodivosť kvapalných izolantov : Kand.diz.práca : V.odb. 26-01-9 : Obh. 11.01.1979 /
- Přehled obvodů řady TTL 7400. Díl 1. : 7400 ... 7499
- Navlhávanie celoplastových oznamovacích káblov : Kand.diz.práca : V.odb. 26-01-9 : Obh. 29.02.1972 /