Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS /

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Grasserbauer, M (Autor), Dudek, H.J (Autor), Enel, M.F (Autor)
Formato: Libro
Lenguaje:alemán
Publicado: Berlin : Akademie Verlag, 1986
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