Spolehlivost elektronických součástek LSI se zaměřením na MIS struktury : Kand.diz.práca : V.odb. 26-01-9 : Obh. 11.06.1980 /
Enregistré dans:
| Auteur principal: | |
|---|---|
| Autres auteurs: | |
| Format: | Manuscrit Livre |
| Publié: |
Bratislava :
SVŠT v Bratislave EF,
1979
|
| Sujets: | |
| Tags: |
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|
Documents similaires: Spolehlivost elektronických součástek LSI se zaměřením na MIS struktury :
- Fotovoltické články MIS na GaAs : Kand.diz.práca : V.odb. 26-01-9 : Obh. 20.01.1983 : Projekt III-6-1/16 /
- Dielektrické vlastnosti tenkých vrstiev v štruktúrach MIM, MSM a MIS : Kand.diz.práca : V.odb. 26-01-9 : Obh. 11.01.1979 /
- Reprodukovateľnosť merania stratového činiteľa keramických kondenzátorov typu 2 a 3 : Kand.diz.práca : V.odb. 26-01-9 : Obh. 11.06.1980 /
- Chladenie silových káblov výparným teplom : Kand.diz.práca : V.odb. 16.01.1975 /
- Tepelná odolnosť prostých a impregnovaných lakovaných drôtov : Kand.diz.práca : V.odb. 26-01-9 : Obh. 30.06.1966 /
- Elektrická vodivosť kvapalných izolantov : Kand.diz.práca : V.odb. 26-01-9 : Obh. 11.01.1979 /