Aplikácia EELS spektroskopie na analýzu ultratenkých vrstiev CNx a BNx pripravených metódou IBAD : Dizertačná práca
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak |
| Vydavateľské údaje: |
Trnava :
STU v Bratislave MTF,
1999
|
| Predmet: | |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: Aplikácia EELS spektroskopie na analýzu ultratenkých vrstiev CNx a BNx pripravených metódou IBAD :
- Príprava a vlastnosti tenkých oxidových supravodivých vrstiev na báze TI a možnosti ich aplikácie v oblasti kryoelektroniky : č.ved.odb. 5-2-48. Obhaj. 22.9.2010
- Štúdium tenkých organických vrstiev amfifilných molekúl : Habil.práca : Obh. 21.11.1995 /
- Fyzika pre všetkých : Elektróny. 3.diel /
- Elektrony : Fyzika dlja vsech 3 /
- Elektrony i fotony v neuporjadočennych splavach
- Príprava, charakterizácia a tvarovanie ultratenkých vrstiev PtSe2