Meranie a určovanie vybraných parametrov Schottkyho diód v závislosti od veľkosti plochy kontaktu : Diplomová práca
Enregistré dans:
| Auteur principal: | |
|---|---|
| Autres auteurs: | |
| Format: | Manuscrit Livre |
| Langue: | slovaque |
| Publié: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2000
|
| Sujets: | |
| Tags: |
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|
Documents similaires: Meranie a určovanie vybraných parametrov Schottkyho diód v závislosti od veľkosti plochy kontaktu :
- Meranie vybraných parametrov Schottkyho diód na báze AlGaN/GaN
- Elektrická charakterizácia kvality Schottkyho diód
- Meranie vybraných parametrov Schottkyho štruktúr v magnetickom poli : Dipl.práca
- Meranie a vyhodnotenie elektrických vlastností Schottkyho štruktúr GaN
- Modelovanie elektrických vlastností Schottkyho štruktúr
- Meranie a vyhodnotenie elektrických vlastností Schottkyho štruktúr PtSi-Si