Analýza povrchov tuhých látok fotoemisnou elektrónovou spektroskopiou (XPS, UPS)
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | , |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak |
| Vydavateľské údaje: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2001
|
| Predmet: | |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: Analýza povrchov tuhých látok fotoemisnou elektrónovou spektroskopiou (XPS, UPS)
- Skúmanie nízkorozmerových štruktúr spektroskopiou hlbokých hladín
- Skúmanie elektrofyzikálnych vlastností polovodičových prvkov spektroskopiou hlbokých hladín
- Analýza povrchov vzoriek použitím sondovej hrotovej mikroskopie
- Identifikácia porúch v Schottkyho štruktúrach na báze SiC spektroskopiou hlbokých hladín
- Skúmanie elektrofyzikálnych vlastností polovodičových prvkov spektroskopiou hlbokých hladín
- Fyzika tuhých látok /