Diagnostika vlastností polovodičových štruktúr využitím šikmého leptu
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | , |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak |
| Vydavateľské údaje: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2003
|
| Predmet: | |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: Diagnostika vlastností polovodičových štruktúr využitím šikmého leptu
- Príprava šikmého leptu cez polovodičové heteroštrukltúry : Diplomová práca /
- Diagnostika polovodičových štruktúr metódou fotoluminiscencie : Dipl.práca
- Diagnostika tvarovaných polovodičových štruktúr optickými metódami
- Diagnostika kvality polovodičových štruktúr a prvkov
- Analýza elektrických a optických vlastností polovodičových štruktúr
- Skúmanie vlastností polovodičových štruktúr metódou DLTS