Charakterizácia štruktúr MIS s oxidom ytria
Enregistré dans:
| Auteur principal: | |
|---|---|
| Autres auteurs: | |
| Format: | Manuscrit Livre |
| Langue: | slovaque |
| Publié: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2003
|
| Sujets: | |
| Tags: |
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|
Documents similaires: Charakterizácia štruktúr MIS s oxidom ytria
- Elektrická charakterizácia vlastností štruktur MOS s veľmi tenkým oxidom
- Charakterizácia štruktúr MIS s veľmi tenkými izolačnými vrstvami
- Charakterizácia a vlastnosti štruktúr typu MIS-HFET na báze GaN : č. ved. odb. 26-13-9, obhaj. 11.6.2008
- Príspevok k štúdiu pohyblivých iónov v izolačnej vrstve štruktúr MIS : Kand.diz.práca : V.odb. 26-10-9 : Obh. 11.11.1982 /
- Príprava a diagnostika štruktúr MIS pre novú generáciu unipolárnych prvkov : Ved.odb. 26-13-9. Obh. 10.3.2006
- Elektrická charakterizácia polovodičových štruktúr a prvkov