Identifikácia porúch v Schottkyho štruktúrach na báze SiC spektroskopiou hlbokých hladín
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak |
| Vydavateľské údaje: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2002
|
| Predmet: | |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: Identifikácia porúch v Schottkyho štruktúrach na báze SiC spektroskopiou hlbokých hladín
- Analýza porúch v organických polovodičových štruktúrach spektroskopiou hlbokých hladín
- Skúmanie nízkorozmerových štruktúr spektroskopiou hlbokých hladín
- Skúmanie elektrofyzikálnych vlastností polovodičových prvkov spektroskopiou hlbokých hladín
- Elektrická charakterizácia Schottkyho štruktur na báze 4H-SiC
- Skúmanie elektrofyzikálnych vlastností polovodičových prvkov spektroskopiou hlbokých hladín
- Analýza porúch v polovodičových štruktúrach na báze SiC