Microscopy Conference 2003 : Proceedings. Microscopy and Microanalysis, Vol. 9, Supplement 3, 2003
Uložené v:
| Korporativný autor: | |
|---|---|
| Médium: | Konferenčný príspevok.. Kniha |
| Jazyk: | English |
| Vydavateľské údaje: |
Cambridge :
Cambridge University Press,
2003
|
| Predmet: | |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: Microscopy Conference 2003 :
- Microscopy Conference 2003 : Proceedings. Microscopy and Microanalysis, Vol. 9, Supplement 3, 2003
- Electron microscopy and analysis /
- Field-Ion Microscopy
- Noncontact Atomic Force Microscopy /
- Transmission Electron Microscopy : Physics of Image Formation
- Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis